4 ชุดข้อมูล
เรียงโดย
กลุ่มชุดข้อมูล
แท็ค
-
Density (1)
-
dielectric constant (1)
-
dielectric material (1)
-
dielectric strength (1)
-
DSC (1)
-
electric field stress (1)
-
electrical properties (1)
-
GC-MS (1)
-
LOI (1)
-
nstda services (1)
รูปแบบ
องค์กร
ขอบข่ายการให้บริการงานจุลทรรศน์และจุลวิเคราะห์
(1 )
ขอบข่ายการให้บริการงานจุลทรรศน์และจุลวิเคราะห์ ประกอบด้วยเทคนิคการทดสอบ OM, SEM, TEM, XCT
วันที่ปรับปรุงข้อมูลล่าสุด :
16 ธันวาคม 2567
ขอบข่ายการวิเคราะห์ทดสอบงานทดสอบสมบัติทางฟิสิกส์
(17 )
ขอบข่ายการวิเคราะห์ทดสอบงานทดสอบสมบัติทางฟิสิกส์ เทคนิคทดสอบสมบัติทางไฟฟ้า
วันที่ปรับปรุงข้อมูลล่าสุด :
19 กรกฎาคม 2567
วิทยาศาสตร์ เทคโนโลยีดิจิทัล และนวัตกรรม
ขอบข่ายการวิเคราะห์ทดสอบงานวิเคราะห์เชิงฟิสิกส์
(4 )
ขอบข่ายการวิเคราะห์ทดสอบงานวิเคราะห์เชิงฟิสิกส์ เกี่ยวกับการทดสอบแบบผง ทางความร้อน ตัวอย่างที่มีความเป็นผลึก
วันที่ปรับปรุงข้อมูลล่าสุด :
19 กรกฎาคม 2567
วิทยาศาสตร์ เทคโนโลยีดิจิทัล และนวัตกรรม
รายการชุดข้อมูลบริการ
(7 )
รายการชุดข้อมูลบริการของสวทช. ประกอบไปด้วย การถ่ายทอดเทคโนโลยี บริการวิเคราะห์และทดสอบ มาตรการส่งเสริมการเงิน ภาษี และบัญชีนวัตกรรม กลไกส่งเสริมธุรกิจนวัตกรรม...
วันที่ปรับปรุงข้อมูลล่าสุด :
16 กรกฎาคม 2567
วิทยาศาสตร์ เทคโนโลยีดิจิทัล และนวัตกรรม
